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JH-CT2 涂层测厚仪产品资料

点击次数:164 发布时间:2019/11/23
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仪器特点:
⚫ 采用高精度采样芯片和校准模型,配合的实时温度补偿技
术,可实现全量程测量,并可测量 20um 以下薄电
镀层及氧化层厚度
⚫ 采用的数据处理技术,降低电磁干扰及手持操作的影响
⚫ 测头磨损后,可与仪器主机重新匹配,有效延长测头使用寿命
⚫ 可对厚度、时间等测量信息进行完整存储
⚫ 可与 PC 机实现数据传输
⚫ 支持实时在线测量,主机软件可进行升级

 
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