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Equotip 550 多功能硬度计

Equotip 550 多功能硬度计

产品时间:2019-12-06

简要描述:

Equotip 550 多功能硬度计是便携式硬度检测中功能齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态(回弹)法,适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。

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Equotip 550 多功能硬度计是便携式硬度检测中功能齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态(回弹)法,适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。

Equotip 550 多功能硬度计

结合 Equotip Portable Rockwell 探头,Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。 

 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面,提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外,该仪器可兼容后续开发产品。

全彩显示屏使您能够执行高质量的测量和对已测得数据进行分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。

迄今为止,Proceq 的 Equotip 已经成为全球广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置完全满足众多行业对无损硬度检测的要求。

 

Equotip Leeb

  • 根据需要自动转换至所有通用的硬度单位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)

  • 自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL(硬度为 800 HL 时,准确度为 0.5%)

  • 测量范围广泛,可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。

  • 每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和精确的硬度测试块,,用于定期验证。


Equotip 550 Touchscreen Unit

  • 模块化概念: 利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用

  • 组合法: 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值

  • 引导向导: 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量精确度

  • 自动验证: 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证

  • 互动指南: 通过屏幕通知为您的应用获取相关的设置

  • 转换曲线: 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线

  • 自定义报告: 模块化报告处理器允许自定义测量报告

  • 自动选项: 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境

  • 外壳经过特殊设计,可用于严苛的现场环境 (IP 54),包括背带、集成支架和遮阳盖

  • 高分辨率彩色显示屏

  • 电池使用时长 > 8h

  • 8 GB 闪存

  • 双核处理器,支持各种通信接口和外围接口: 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网

  • 通过直接兼容后续开发产品,实现未来保障投资

  • 里氏回弹硬度检测主要用于金属测量,还可用于复合材料、橡胶和岩石检测

  • 合适用于材料挑选、验收和生产环节检测

  • 合适用于重型和大型部件安装前后的现场检测

  • 方便用于难进入或空间有限的金属硬度检测场地

Proceq 提供一些附件,例如一个测量夹或几个支撑脚,适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量

标准

  • ASTM A956 / E140 / A370

  • ISO EN 16859(即将发布)

  • DIN 50156

  • GB/T 17394

  • JB/T 9378


准则

  • ASME CRTD-91

  • DGZfP Guideline MC 1

  • VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

  • Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

仪器:

显示屏7” 彩色显示屏 800 x 480 像素
内存内置 8 GB 闪存
(可存储多达 1000000 个测量值)
区域设置公制和英制单位,支持多种语言和时区
电池锂聚合物,3.6 V、14.0 Ah
电池使用时长> 8h(标准操作模式下)
电源输入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量(显示装置)大约 1525 g(含电池)
尺寸250 x 162 x 62 mm
海拔2500 m 海拔高度
湿度< 95 %RH,非冷凝
操作温度0°C 至 30°C(32 至 86°F)
(正在充电且仪器正在运行)
0°C 至 40°C(32 至 104°F)
(正在充电且仪器关闭)
-10°C 至 50°C(14 至 122°F)
(未充电)
环境适合室内与室外使用
IP 等级IP 54
污染等级2
安装类别2


Equotip Leeb 冲击装置:

测量范围1-999 HL
测量精度± 4 HL(800 HL 时为 0.5 %)
分辨率1 HL;1 HV;1 HB;0.1 HRA;0.1 HRB;
0.1 HRC;0.1 HS;1 MPa (N/mm2)
冲击方向自动补偿(DL 探头除外)
冲击能量
  • D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm

  • DL 探头为 11.1 Nmm

  • C 探头为 3.0 Nmm

  • G 探头为 90.0 Nmm

冲击体质量

 

  • D、DC、E、S 探头为 5.45 克(0.2 盎司)

  • DL 探头为 7.25 克(0.26 盎司)

  • C 探头为 3.10 克(0.11 盎司)

  • G 探头为 20.0 克(0.71 盎司)

球压头
  • C、D、DC 探头为碳化钨,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)

  • DL 探头为碳化钨,直径 2.78 毫米
    (0.11 英寸)

  • G 探头为碳化钨,直径 5.0 毫米(0.2 英寸)

  • S 探头为陶瓷,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)

  • E 探头为多晶金刚石,直径
    3.0 毫米(0.12 英寸)

操作温度–10˚C 至 50˚C(14 至 122°F)

保修

  • 电子部件的保修期统一为 2 年

  • 可选择3年时间的有偿续保

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