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QNix涂层测厚仪

QNix涂层测厚仪

产品时间:2019-12-09

简要描述:

QNix涂层测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。

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QNix涂层测厚仪特点

零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。
无需校准:多数测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。
温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头:探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。
独特的直流采样技术:使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。
单探头量程大:0-5mm
双功能用途:
1.测量钢、铁等铁磁性(Fe)金属基体上的非磁性涂镀层的厚度,如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等
2.测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性(NFe)基体上的所有非导电层的厚度,如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、氧化层等。

  

QNix涂层测厚仪

技术参数

QNix4200/4500主机

磁性基体

Fe探头(4200/4500)

非磁性基体

NFe探头(4500)

测量范围

Fe:0-3000um/NFe:0-3000um

显示精度

0.1um

精度

0-50um:≤+/-1um

50-1000um:≤+/-1.5%读数

1000-3000um≤+/-3%

最小接触面

10×10mm

最小曲率半径

凸面:3mm

凹面:25mm

最小基体厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

温度补偿范围

0-60℃

显示

LCD液晶

探头

红宝石固定式

电源

2×1.5V干电池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

 

 

 

 

技术参数

QNix1200/1500主机

磁性基体

Fe探头(1200/1500)

非磁性基体

NFe探头(1500)

测量范围

Fe/NFe  : 0-5000um

精度

0-50um:≤+/-1um

50-1000um:≤+/-1.5%读数

1000-3000um≤+/-3%

最小接触面

10×10mm

最小曲率半径

凸面:5mm

凹面:25mm

最小基体厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

温度补偿范围

0-60℃

显示

LCD液晶

探头

红宝石固定式

电源

1×9V电池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

特点

直角设计方便测量管内壁

存储

1500存储型可存储数据

数据传输

1500存储型可连接计算机

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