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LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪

LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪

产品时间:2019-12-09

简要描述:

LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

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LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪

利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
 

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

 

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪

特点概述
 
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯校准选项 出厂时已校准,立即可用 在未知涂层上校准* 零校准* 在无涂层的基体上一点和多点校准* 在有涂层的基体上校准*校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出可选择的显示模式,以形式去完成测量任务*输入和极限监视*在Windows下有简单的存储读数档案管理*可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport统计*可统计评估999个读数最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)在线统计,所有统计值概括

 

  3种配置级别以更好的完成测量人任务
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别
 
 基本型 – 证明质量的基本特征
 高级型 - 附加统计评估
 专业型 - 统计评估和数据存储
  
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

 

  多样的探头
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。

 

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