产品中心您的位置:网站首页 > 产品中心 > 无损检测设备 > X射线 > Scan X EllipseScan X Ellipse计算机X射线成像系统
Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

产品时间:2019-12-12

简要描述:

Scan X Ellipse计算机X射线成像系统提供灵活性的成像板扫描⽅方式,可扫描任意⻓长度、不同形状的成像板,还能同时扫描多张成像板,并能对多张成像板进⾏一次性擦除。

分享到:

Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

⾼分辨率可达12.5 μm

- 基本空间分辨率可达40μm

- IP板重复使⽤用多达25000次

- BAM实验室认证产品

- 灰度等级可达16 bit

- 显著减少曝光时间

- 操作简单、维护⽅方便

- 以太⺴数据交换 

Scan X Ellipse计算机X射线成像系统

可让⽤用户定义扫描分辨率。 扫描分辨率从20 μm到100 μm可调,既适用于高精度焊缝检测,也能满⾜短曝光时间、检测速度快的应⽤场合。⽆极调节的扫描分辨率确保能以扫描参数满⾜各种检测应⽤领域的需求。

高分辨率成像板和ScanX Discover HR扫描仪相结合,基本空间分辨率可以达到40 μm。 

无论检测环境是在生产现场或是实验室,ScanX Discover HR*的特性、超高的图像质量以及多功能性可满足各种苛刻的需求。通过选择不同成像板类型,调整扫描参数,用户可以自定义图像质量和曝光时间来完成各种检测。

ScanX Discover HR提供灵活性的成像板扫描⽅方式,可扫描任意⻓长度、不同形状的成像板,还能同时扫描多张成像板,并能对多张成像板进⾏一次性擦除。

ScanX View软件与扫描仪兼容性强,内含的⼯工具有助于将检测结果调节到显⽰状态,且结果反复可调。 

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
网站首页 关于我们 新闻中心 产品中心 联系我们
备案号:沪ICP备20000647号-1   GoogleSitemap   技术支持:化工仪器网 管理登陆
©2021  上海玖横仪器有限公司 版权所有 总访问量:79893
    QQ在线客服
  •   在线咨询
  • 点击这里给我发消息
电话
021-61484576
17521380991
13584974815