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依科视朗Y.Panel-数码平板探测器

依科视朗Y.Panel-数码平板探测器

产品时间:2019-12-20

简要描述:

依科视朗Y.Panel-数码平板探测器拥有10年以上生产使用于工业环境下的数码平板探测器经验。我们的员工为ASTM委员会代表,并与BAM(德国联邦材料研究与试验学院)紧密合作。他们拥有专业知识,对行业标准作出了决定性贡献。

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依科视朗Y.Panel-数码平板探测器拥有10年以上生产使用于工业环境下的数码平板探测器经验。我们的员工为ASTM委员会代表,并与BAM(德国联邦材料研究与试验学院)紧密合作。他们拥有专业知识,对行业标准作出了决定性贡献。

依科视朗Y.Panel-数码平板探测器

Y.面板 XRD系列

  • 适应于软件像素矫正的像素规格

  • 模型选择与应用相对应

  • 自主探测器必要安装和屏蔽设计

  • 与主要探测器制造商紧密合作

 

无论是检测焊缝、碳纤维增强塑料装备、电子装备还是铸造部件:每个应用需要合适的探测器设计,以取得图像质量和细节检测能力。

依科视朗从各类制造商供应的模型中挑出不同模型来完成此项工作。有时,制造商同意做出特定修改,比如减少敏感度。因此,允许有更高的放射量,但探测器不能超负荷。反之,由于信噪比提高,量子噪音降低,且细节检测能力明显提高。

在几年前的一项联合测试项目中,我们已与制造商一起解决了产品寿命问题,例如相关的Y.Panel XRD探测器模型。同样,依科视朗已与制造商就修改Y.Panel XRD模型像素规格达成了一致,明确提高了标准模型的清晰度,且与ASTM 2597-E07保持一致。并考虑用Y.IMAGE软件矫正算法找出足够完美的相邻像素以纠正响应不足的像素灰度值。

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